TG20-X/β系列极片面密度测量仪为测量和控制锂电池电极片涂层面密度而设计，系统主要由上位机及控制单元、X/β射线测量单元和检测器移动机械装置组成。它能够准确、可靠地测量包括锂电池极片涂层的面密度和厚度。面密度测量控制系统可和锂电池涂布生产设备形成闭环系统，可精确控制涂层的面密度，测量和控制系统保证了锂电池电极片的涂布生产达到高质量标准。
适合测量：连续涂布、间隙涂布、条纹涂布
X面密度测量仪：正极极片（铝基材）
β面密度测量仪：负极极片（铜基材）
测量原理
X/β射线发生器将射线投射到被测基材，一部分为被测基材吸收， 一部分刺穿过被测基材后被探测器接收，系统分析射线的强度变化及被测基材的厚度相关特性，计算出被测基材的面密度及厚度。
射线在穿透被测材料时，其强度呈指数规律衰减，其衰减公式为：I=I0 e-μh, I为穿过物体后的射线强度，I0为初始射线强度，μ为衰减系数也叫吸收系数，h为被测材料厚度。
X/β射线选型依据：材料对射线的吸收系数越大，射线测量的精度越高。
X射线：内层电子跃迁产生的电磁波，无辐射，环保豁免，使用时间长。钴酸锂，锰酸锂，磷酸铁锂等正极材料对于X射线的吸收系数都比较大，用X射线测量正极极片时，测量精度高。
β射线：高速带电荷的电子流。由于β射线的广谱吸收特性，用其测量负极极片的涂布量及面密度精度高。根据负极极片的结构形式、原子系数，以及面密度的范围，选用的放射源为Kr85放射性同位素β射线。Kr85放射源的寿命为10年。
行业定制软件
● 智能操作，使用简单
● 实时显示测量数据
● 强大的图标功能:实时厚度图、重叠数据曲线图、区域数据曲线图、纵向/横向3D趋势图
● 基于数据库的专业数据记录及管理
● 可全程追溯，海量数据存储，数据保存时间达3年
● 模板功能可根据不同工艺配方设定测量参数，随时调用
● 具备定点测量功能
● 自动启停传感器及扫描功能
通信及总线接口
● 可与MES系统进行通信
● 可通过总线方式将上位机与局域网连通，进行数据交换
● 支持PLC、以太网、RS485、RS232等总线接口
涂布头APC
● PLC自动调节控制涂布辊间隙
● 控制调节精度±0.2%（FS），小于等于扫描测试精度
● 模头控制调节系统与主机光纤通讯
